<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Методи і засоби вимірювання параметрів безструктурних моделей багатоелектродних напівпровідникових структур

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorГаврілов, Д. В.uk
dc.contributor.authorФілинюк, М. А.uk
dc.contributor.authorЛіщенко, С. А.uk
dc.titleМетоди і засоби вимірювання параметрів безструктурних моделей багатоелектродних напівпровідникових структурuk
dc.date.issued2002
dc.publisherЖитомирський інженерно-технологічний інститутuk
dc.identifier.citation
dc.identifier.citationГаврілов Д. В. Методи і засоби вимірювання параметрів безструктурних моделей багатоелектродних напівпровідникових структур [Текст] / Д. В. Гаврілов, С. А. Ліщенко, М. А. філинюк // Вісник ЖІТІ. Серія "Технічні науки". - 2002. - Спец. вип. - С. 6-10.uk
dc.relation.ispartofseriesТехнічні наукиuk
dc.identifier.udc621.317
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/8483
dc.description.abstractРозглядаються методи вимірювання параметрів безструктурних моделей багатоелектродних напівпровідникових структур.uk
dc.subjectтранзисторuk
dc.subjectчотириполючникuk
dc.subjectвід'ємний опірuk
dc.subjectвимірюванняuk
dc.subjectкоефіцієнт підсиленняuk
dc.subjectповний опірuk
dc.typeArticle
dc.language.isoukuk
dc.date.accessioned2016-02-19T16:54:37Z
dc.date.available2016-02-19T16:54:37Z

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
2.pdf
Розмір:
882,58 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Стаття
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
2,14 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Наукові видання каф. ІРТС