<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Determination of the optimal frequency of the primary measuring transducer of the thickness of dielectric coatings of metal surfaces

dc.contributor.authorOvcnynnykov, K. V.en
dc.contributor.authorVasilevskyi, O. M.en
dc.contributor.authorSevastianov, V. M.en
dc.contributor.authorPolievoda, Y. A.en
dc.contributor.authorKalizhanova, A.en
dc.contributor.authorYeraliyeva, B.en
dc.contributor.authorОвчинников, К. В.uk
dc.contributor.authorВасілевський, О. М.uk
dc.contributor.authorСевастьянов, В. М.uk
dc.contributor.authorПолієвода, Ю. А.uk
dc.contributor.authorКаліжанова, А.uk
dc.contributor.authorЄралієва, Б.uk
dc.titleDetermination of the optimal frequency of the primary measuring transducer of the thickness of dielectric coatings of metal surfacesen
dc.date.issued2022
dc.publisherLublin University of Technologyen
dc.identifier.citationDetermination of the optimal frequency of the primary measuring transducer of the thickness of dielectric coatings of metal surfaces [Text] / K. Ovcnynnykov, O. Vasilevskyi, V. Sevastianov [etc.] // Informatyka, Automatyka, Pomiary W Gospodarce I Ochronie Środowiska. – 2022. – 12(2). – P. 56-59.en
dc.relation.ispartofInformatyka, Automatyka, Pomiary W Gospodarce I Ochronie Środowiska. 12(2) : 56-59.pl
dc.relation.urihttp://doi.org/10.35784/iapgos.2948
dc.identifier.doi10.35784/iapgos.2948
dc.identifier.issn2083-0157
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/35771
dc.description.abstractУ статті наведено аналіз фізичних процесів, що лежать в основі роботи вимірювального перетворювача з часовим поданням інформації. Розроблено математичну модель, що описує процес загасання вільних коливань, збуджених у LC-контурі первинного вимірювального перетворювача, а також проаналізовано та оцінено вплив зовнішніх чинників, що впливають на результати вимірювання. Запропоновано шляхи усунення їхнього впливу на результати вимірювального контролю.uk
dc.description.abstractThe article provides an analysis of the physical processes underlying the operation of the measuring transducer, with a time based information presentation. A mathematical model is developed that describes the process of free oscillation attenuation excited in the LC-contour of primary measuring transducer, and analyzes and evaluates the influence of external factors that influence the measurement results. The ways of elimination of their influence on the results of measuring control are offered.en
dc.subjectmeasuringen
dc.subjecttransduceren
dc.subjectthicknessen
dc.subjectdielectric coatingen
dc.subjectmetal surfaceen
dc.subjectoscillationen
dc.subjectвимірюванняuk
dc.subjectперетворювачuk
dc.subjectтовщинаuk
dc.subjectдіелектричне покриттяuk
dc.subjectметалева поверхняuk
dc.subjectколиванняuk
dc.typeArticle
dc.language.isoenen
dc.date.accessioned2022-09-07T11:29:48Z
dc.date.available2022-09-07T11:29:48Z

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
109196.pdf
Розмір:
796,02 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
129 B
Формат:
Plain Text
Опис: