Оцінка параметрів компонентів електроніки при відборі їх для апаратури відповідального призначення на основі кластеризації з вейвлет-обробкою та врахуванням обмежень
Вантажиться...
Файли
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Анотація
У статті розглянуто методи оцінки параметрів компонентів електроніки при відборі їх для апаратури відповідального призначення. Це може бути необхідним при комплектації важливих складних систем електроніки якісною компонентною базою. Для забезпечення цього під час виробництва електронних компонентів часто необхідно відібрати для таких систем надійніші. Один із важливих підходів при цьому – вибір моделі оцінки надійності та оцінка її параметрів. Значна частина таких підходів потребує удосконалення методів обробки, а саме – кластеризації. Відомі методи кластеризації, засновані на оцінюванні градієнта, є поширеними в задачах, де потрібна надійна обробка даних за наявності шуму та мультимодальності. Проте їх використання обмежується низькою стійкістю до шумів та високими обчислювальними витратами. Метою цієї роботи є розробка та дослідження методу кластеризації, що використовує вейвлет-функції для введення обмежень і забезпечує стабільну роботу в умовах шуму. Дослідження включало аналіз наявних підходів, розробку методу кластеризації з обмеженнями типу нерівностей, що отримані за рахунок вейвлет-обробки, алгоритму його реалізації та експериментальну оцінку. Запропонований метод ґрунтується на обробці із гіперболічними вейвлет-функціями та вейвлет-функціями Хаара, що дозволяють зменшити кількість оцінок значень цільової функції, скоротити обчислювальні етапи та прискорити збіжність задач з використанням кластеризації. На основі такої кластеризації удосконалено методи визначення інтенсивності відмов та параметрів DN-розподілу для оцінки надійності при відборі компонентів та процедура реалізації цих методів. Метод випробуваний на прикладі відбракування резисторів за рівнем шуму та стабільності. Підвищення швидкодії за збереження достатньої стійкості до перешкод і достовірності процедури відбраковування досягається за рахунок застосування в цьому методі кластеризації з вейвлет-функціями з урахуванням обмежень. Цей результат дозволяє рекомендувати розроблений метод при відборі компонентів, призначених для апаратури відповідального призначення.
Опис
УДК
Тип документа
Мова
ISSN
Бібліографічний опис
Антощук С. Г., Щербакова Г. Ю., Кошутіна Д. В. Оцінка параметрів компонентів електроніки при відборі їх для апаратури відповідального призначення на основі кластеризації з вейвлет-обробкою та врахуванням обмежень // Наукові праці Вінницького національного технічного університету. 2025. Електр. текст. дані (PDF: 1,03 МБ). № 3. URI: https://praci.vntu.edu.ua/index.php/praci/article/view/863.
Зібрання
Схвалення
Рецензія
Доповнено
Цитується в
Список використаної літератури (14)
- Chorny N.V., Stepanov S.S., Matuzko B.P. Information support assessment of reliability and armament equipment during use. Військово-технічний збірник. 2011. No2(5). Р. 140–145.
- SinghK., KalraS. Reliability Forecasting and Accelerated Lifetime Testingin Advanced CMOS Technologies. Microelectronics Reliability. 2023. Vol. 151. URL: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115261%20 (Last. accessed 02.10.2025).
- Hsu P.-N. Artificial Intelligence Deep Learning for 3D IC Reliability Prediction. Scientific Reports. 2022. Vol. 12(1). DOI: https://doi.org/10.1038/s41598-022-08179-z.
- Time Series Data for Equipment Reliability Analysis with Deep Learning / B.Chenet et al.IEEE Access.2020. Vol. 8. P. 105484–105493. DOI: 10.1109/ACCESS.2020.3000006.
- Evaluation Of Reliability Of Radio-Electronic Devices With Variable Structure / Y. V.Ryzhovet al. Radio Electronics, Computer Science, Control. 2020. No3. Р. 31–41. URL: https://doi.org/10.15588/1607-3274-2020-3-3 (Lastaccessed 01.10.2025).
- Haar Wavelet-Based Classification Method for Visual Information Processing Systems / W. Huanet al.Appl. Sci. 2023. No13(9). URL: https://doi.org/10.3390/app13095515. (Last accessed 01.10.2025).
- Wavelet Transform Cluster Analysis of UAV Images for Sustainable Development of Smart Regions DuetoInspecting Transport Infrastructure / Y. Zhenget al. 2025. No17. Р. 927–940. URL: https://doi.org/10.3390/su17030927(Last accessed 01.10.2025).
- Information Technology of Parameters Prediction with Adaptive Clusteringin the Spaceof the Wavelet Transform / G. Shcherbakovaet al. Пр. Одес. політехн. ун-ту. Вип. 1 (40). С. 104–109.
- ZelenkovА. А., GolikА. P. Theon-board system reliability estimate on the base of DN-distribution. Електроніка та системи управління. 2009. No2(20). P. 12–17.
- Fault Diagnosis for Attitude Sensors Basedon Analytical Redundancy and Wavelet Transform. Chinese Automation Congress (CAC)/LiuW.et al. China, Shanghai. 2020. Р. 6471–6476. DOI: 10.1109/CAC51589.2020.9327370.