Позиційний метод оцінювання характеристик бітових помилок

Abstract

Розроблено позиційний метод оцінювання бітових помилок, який на відміну від інших враховує позиції вставок і випадань (видалень) бітів, що дозволяє виявляти бітові помилки на фоні адитивних завад і оцінювати їх характеристики. Метод дозволяє відокремлювати одну від одної помилки різних типів: вставки, випадання і фонові адитивні помилки.

Разработан позиционный метод оценивания битовых ошибок, который в отличие от других учитывает позиции вставок и выпадений (удалений) бит, что позволяет обнаруживать битовые ошибки на фоне аддитивных помех и оценивать их характеристики. Также метод позволяет отделять одну от другой ошибки разных типов: вставки, выпадение и фоновые аддитивные ошибки.

This paper investigated and improved positional bit error measurement method, which unlike other positions into account and inserts fall out bits that can detect bit errors on additive background noise and evaluate their options. Also, the method allows to separate errors of various types: insertion loss and background additive error.