Засіб вимірювання товщини діелектричних покриттів металевих поверхонь
Вантажиться...
Дата
Автори
Науковий керівник
Редактор
Інші учасники
Відповідальний
ORCID
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
DOI
Альтернативна назва
Анотація
Для вирішення поставленої задачі були проаналізовані методи та засоби, які сьогодні використовуються для вимірювання товщини покриттів. Серед інших в якості основи обраний ємнісний метод, як такий, що забезпечує найбільшу чутливість в заданому діапазоні товщини.
Проаналізовані аналогічні прилади, розроблена структура засобу вимірювання на базі комутаційної схеми вимірювання ємності, На базі структурної схеми розроблена функціональна схема пристрою, яка дозволила визначитись з основними електронними компонентами, що були використані в схемі. Розроблена принципова схема засобу вимірювання. Були оцінені основні метрологічні характеристики, серед яких чутливість, яка не перевищила значення 3,98·106 м-1.
Проведені економічні розрахунки, які підтверджують доцільність нової розробки.
Опис
Керівник: канд. техн. наук, доц. Возняк О. М.
Ключові слова
УДК
Тип документа
Мова
Є частиною
ISSN
Посилання на публікацію
Серія, номер
ISBN
ББК
Інші ідентифікатори
Пов’язані матеріали
Спонсорська підтримка
Правовласник
Бібліографічний опис
Засіб вимірювання товщини діелектричних покриттів металевих поверхонь [Електронний ресурс] : [презентація] / викон. О. В. Костюк ; Вінницький національний технічний університет ; Факультет комп'ютерних систем та автоматики ; Кафедра метрології та промислової автоматики. – Електронні текстові дані (1 файл: 537 Кбайт). – Вінниця, 2017. – Назва з екрана.