Огляд методів визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідниках
| dc.contributor.author | Осадчук, В. С. | uk |
| dc.contributor.author | Осадчук, О. В. | uk |
| dc.contributor.author | Дуда, Р. В. | uk |
| dc.date.accessioned | 2017-01-09T23:25:52Z | |
| dc.date.available | 2017-01-09T23:25:52Z | |
| dc.date.issued | 2013 | |
| dc.identifier.citation | Осадчук В. С. Огляд методів визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідниках [Текст] / В. С. Осадчук, О. В. Осадчук, Р. В. Дуда // Materiály IX mezinárodní vědecko-praktická konference «Zprávy vědecké ideje – 2013». - 2013. - Díl 25 : Technické vědу. - С. 26-34. | uk |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/13613 | |
| dc.description.abstract | Час життя носіїв заряду в напівпровідниках є важливою складовою, що визначає параметри матеріалу, які в свою чергу впливають на характеристики напівпровідникових пристроїв, які використовують електронні властивості носіїв заряду. Існує значна кількість методів визначення часу життя, проте всі вони є не досить точними. Тому необхідно проводити додаткові дослідження для підвищення точності виміру цього параметру. | uk |
| dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
| dc.publisher | Science and Education Ltd | en |
| dc.subject | час життя | uk |
| dc.subject | носії заряду | uk |
| dc.subject | напівпровідники | uk |
| dc.subject | рекомбінація | uk |
| dc.subject | генерація | uk |
| dc.title | Огляд методів визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідниках | uk |
| dc.type | Thesis |
Файли в цьому документі
Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)
-
Наукові роботи каф. ІРТС [778]
статті, матеріали конференцій