| dc.contributor.author | Кичак, В. М. | uk |
| dc.contributor.author | Михалевський, Д. В. | uk |
| dc.contributor.author | Лавіцький, О. М. | uk |
| dc.date.accessioned | 2017-03-29T08:06:09Z | |
| dc.date.available | 2017-03-29T08:06:09Z | |
| dc.date.issued | 2006 | |
| dc.identifier.citation | Кичак В. М. Оптимізація методу оцінки якості виробів електронної техніки за шумовими характеристиками для одноелектронного транзистора [Текст] / В. М. Кичак, Д. В. Михалевський, О. М. Лавіцький // Міжнародна конференція з автоматичного управління “Автоматика – 2006”, м. Вінниця, 25 -28 вересня 2006 р. - 2006. - С. 200. | uk |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/15013 | |
| dc.description.abstract | У роботі запропоновано оптимальне використання методу оцінки якості виробів електронної техніки за низькочастотними шумовими характеристиками для одноелектронного транзистора. А також запропонована математична шумова модель. | uk |
| dc.description.abstract | The optimum use method of estimation quality wares of electronic technique is in-process offered on low-frequency noises by descriptions for a singleelectron transistor. And also the offered mathematical noise model. | en |
| dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
| dc.publisher | ВНТУ | uk |
| dc.relation.ispartof | Міжнародна конференція з автоматичного управління “Автоматика – 2006”, м. Вінниця, 25 -28 вересня 2006 р. : 200. | uk |
| dc.subject | вироби електронної техніки | uk |
| dc.subject | одноелектронний транзистор | uk |
| dc.subject | контроль | uk |
| dc.subject | контроль виробів електронної техніки | uk |
| dc.subject | низькочастотні шуми | uk |
| dc.subject | власні шуми | uk |
| dc.subject | noise signals | en |
| dc.subject | low frequency noise | en |
| dc.subject | wares of electronic technique | en |
| dc.title | Оптимізація методу оцінки якості виробів електронної техніки за шумовими характеристиками для одноелектронного транзистора | uk |
| dc.title.alternative | Optimization of method of estimation quality wares of electronic technique after noises descriptions for singleelectron transistor | en |
| dc.type | Thesis | |
| dc.identifier.udc | 621.315.592 | |
