Показати скорочену інформацію

dc.contributor.authorVasilevskyi, O. M.en
dc.contributor.authorTrishch, R. M.en
dc.contributor.authorВасілевський, О. М.uk
dc.date.accessioned2021-05-25T13:02:04Z
dc.date.available2021-05-25T13:02:04Z
dc.date.issued2021
dc.identifier.citationVasilevskyi O. M. Critical analysis of the indicators quality of manufacturing processes [Текст] // Матеріали VIІI Міжнародної науково-технічної конференції "Метрологія, інформаційно-вимірювальні технології та системи" (МІВТС-2021), Харків, 20-21 травня 2021 р. – Харків, 2021. – С. 9-10.uk
dc.identifier.isbn978-966-8689-54-3
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/32166
dc.language.isoenen
dc.publisherХарківський національний університет радіоелектронікиuk
dc.relation.ispartofМатеріали VIІI Міжнародної науково-технічної конференції "Метрологія, інформаційно-вимірювальні технології та системи" (МІВТС-2021), Харків, 20-21 травня 2021 р. : 9-10.uk
dc.titleCritical analysis of the indicators quality of manufacturing processesen
dc.typeThesis


Файли в цьому документі

Thumbnail

Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)

Показати скорочену інформацію