Нанокарбидные процессы при мос-эпитаксии III-нитридных структур
Author
Осинский, В. И.
Ляхова, Н. Н.
Масол, И. В.
Грунянская, В. П.
Деминский, П. В.
Суховий, Н. О.
Стонис, В. В.
Оначенко, М. С.
Date
2012Metadata
Show full item recordCollections
Abstract
Обсуждается возможность целенаправленного формирования оптоэлектронных приборов с использованием многообразия углеродных наноструктур. Впервые получена аномальная анизотропная электропроводность с полупроводниковым характером температурной зависимости поверхности накарбидизированного с-сапфира. Установлено активирующее влияние температурной обработки поверхности с-сапфира в потоке аммиака (Т=1050оС, t = 20 мин при давлении в реакторе порядка 20 – 50 мбар) для последующего образования в нанотекстурированном сапфире нанокарбидных структур в потоке триметил алюминия (Т = 1000оС, газ-носитель азот, t = 1 мин). Обсуждается возможность целенаправленного формирования оптоэлектронных приборов с использованием многообразия углеродных наноструктур. Впервые получена аномальная анизотропная электропроводность с полупроводниковым характером температурной зависимости поверхности накарбидизированного с-сапфира. Установлено активирующее влияние температурной обработки поверхности с-сапфира в потоке аммиака (Т=1050оС, t = 20 мин при давлении в реакторе порядка 20 – 50 мбар) для последующего образования в нанотекстурированном сапфире нанокарбидных структур в потоке триметил алюминия (Т = 1000оС, газ-носитель азот, t = 1 мин). The possibility of optoelectronic devices forming with the variety of carbon nanostructures are described. An anomalous anisotropic conductivity of the semiconductor character of the temperature dependance of the nonocarbid c-sapphire was first time receive. The article views an active influence of the temperature of c-sapphire surface treatment in ammonia current ( Т=1050оС, t = 20 min in the reactor at a pressure of about 20-50 mbar) for further formation of nanocarbide structures in nanotexturize sapphire in
URI:
http://oeipt.vntu.edu.ua/index.php/oeipt/article/view/251
http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/3318