Аналітичні основи поляризаційного картографування багатошарових двопромене- заломлюючих полікристалічних мереж

Abstract

Розглянуто взаємозв’язок між Мюллер-матричним і поляризаційним картографуванням багатошарових двопроменезаломлюючих мереж. На основі моделювання координатних розподілів азимутів і еліптичностей двопроменезаломлюючих багатошарових мереж виявлені взаємозв’язки між їх статистичними, кореляційними і фрактальними характеристиками при збільшенні кількості шарів. Запропоновані результати є підґрунтям для розробки критеріїв диференціації оптичних властивостей багатошарових полікристалічних мереж.Рассмотрена взаимосвязь между Мюллер-матричным и поляризационным картографированием многослойных двулучепреломляющих сетей. На основе моделирования координатных распределений азимутов и элиптичностей выявлены взаимосвязи между их статистическими, корреляционными и фрактальными характеристиками при увеличении количества слоев. Предложенные результаты могут быть положены в основу разработки критериев дифференциации оптических свойств многослойных поликристаллических сетей.The relationship between the Mueller-matrix and polarization mapping of the multilayer birefringent networks considered. Based on modeling of coordinate distributions of azimuths and ellipticity are revealed the relationship between their statistics, correlation and fractal characteristics as the number of layers. The proposal results may be the basis for developing criteria for the differentiation of the optical properties of polycrystalline multilayer networks.