• English
    • українська
  • English 
    • English
    • українська
  • Login
View Item 
  • Frontpage
  • Факультет інформаційних електронних систем
  • Кафедра інформаційних радіоелектронних технологій і систем
  • Наукові роботи каф. ІРТС
  • View Item
  • Frontpage
  • Факультет інформаційних електронних систем
  • Кафедра інформаційних радіоелектронних технологій і систем
  • Наукові роботи каф. ІРТС
  • View Item
Сайт інституційного репозитарію ВНТУ містить роботи, матеріали та файли, які були розміщені докторантами, аспірантами та студентами Вінницького Національного Технічного Університету. Для розширення функцій сайту рекомендується увімкнути JavaScript.

Дослідження реактивних властивостей тунельно-резонансного діода

Author
Осадчук, О. В.
Осадчук, В. С.
Осадчук, Я. О.
Osadchuk, A. V.
Osadchuk, V. S.
Osadchuk, I. A.
Date
2020
Metadata
Show full item record
Collections
  • Наукові роботи каф. ІРТС [790]
Abstract
На основі розгляду фізичних процесів у тунельно-резонансному діоді визначено аналітичні формули ємності та індуктивності, які залежать як від технологічних параметрів, так і від режиму роботи. Показано, що ємність діода змінюється від 1,99·10-18 Ф до 1,97·10-18 Ф від напруги на спадній ділянці вольт-амперної характеристики, а зміна величини індуктивності в діапазоні від 0,5·10-13 Гн до 2,75·10-13 Гн. Індуктивність тунельно-резонансного діода зв`язана з кінцевою швидкістю руху електронів і вона завжди існує в діоді за будьяких умов. Це пояснюється тим, що напруга на емітері, яка викликала рух електронів через прилад, випереджає струм, тобто струм завжди запізнюється по відношенню до напруги, що еквівалентно індуктивній реакції тунельно-резонансного діода. Власна резонансна частота на ділянці від`ємного диференційного опору змінюється від 5·1014 Гц до 3,3·1014 Гц. Резонансно-тунельні діоди можна використовувати як регульовані ємнісні та індуктивні елементи, причому їх добротність можна регулювати за рахунок від`ємного диференційного опору в інтервалах від 100 і більше.
 
Based on the physical processes considered in the resonance tunnel diode, analytical formulas for the capacitance and inductance are determined, which depend on both the technological parameters and the operating mode. It is shown that the diode capacitance varies from 1.99·10-18 F to 1.97·10-18 F from the voltage in the downstream section of the current-voltage characteristic, and the change in the inductance in the range from 0.5·10-13 H to 2,75·10-13 H. The inductance of the tunnel resonance diode is related to the finite velocity of the electrons and it always exists in the diode under any conditions. This is because the voltage at the emitter, which caused the movement of electrons through the device, is ahead of the current, that is, the current is always delayed relative to the voltage, which is equivalent to the inductive reaction of the tunnel resonance diode. The natural resonant frequency in the area of negative differential resistance varies from 5·1014 Hz to 3.3·1014 Hz. Resonance tunnelling diodes can be used as adjustable capacitive and inductive elements, and their quality factor can be adjusted due to negative differential resistance in the range of 100 or more.
 
URI:
http://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/34173
View/Open
90188.pdf (968.7Kb)

Institutional Repository

FrontpageSearchHelpContact UsAbout Us

University Resources

JetIQLibrary websiteUniversity websiteE-catalog of VNTU

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypePublisherLanguageUdcISSNPublicationDOIThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypePublisherLanguageUdcISSNPublicationDOI

My Account

LoginRegister

Statistics

View Usage Statistics

ISSN 2413-6360 | Frontpage | Send Feedback | Help | Contact Us | About Us
© 2016 Vinnytsia National Technical University | Extra plugins code by VNTU Linuxoids | Powered by DSpace
Працює за підтримки 
НТБ ВНТУ