Система та метод поляриметричного калібрування оптичних компонентів на основі мюллер-матричного підходу

Abstract

The article develops a method for calibrating optical components based on the determination and statistical analysis of two-dimensional distributions of measurement errors of Muller matrices, supplemented by binary classification. The corresponding architecture of the Muller matrix polarimetric calibration system of optical components with a classification analysis block based on threshold processing is presented.

В статті розроблено метод калібрування оптичних компонентів на основі визначення та статистичного аналізу двовимірних розподілів похибок вимірювання матриць Мюллера, доповнений бінарною класифікацією. Наведено відповідну архітектуру системи Мюллер-матричного поляриметричного калібрування оптичних компонентів з блоком класифікаційного аналізу на основі порогового оброблення.