Особливості виявлення еталонного зображення на напівтоновому зображенні за методом бінарних зрізів

Abstract

The possibility of creating new effective approaches and methods for the operation of visual systems of mobile works for the identification of tasks and objects of objects is due to the requirements of today. The work method is an analysis of the features of halftone image processing using the method of binary slices to identify a reference image in the field of the current image. The methods of analysis, abstraction and analogy were used as research methods. Separate articles offer an approach to complementing a reference halftone image on a current halftone image. To do this, we note the features of using the method of binary slices for processing a halftone image in combination with methods that allow you to destroy the reference binary image on the current binary image. The proposed approach includes a step of forming a set of binary slices of the halftone current image, a step of forming a set of binary slices of the halftone reference image, a step of matching the binary slices of the reference to the binary slices of the current image, a step of determining the location of each binary slice of the reference on the corresponding slice of the current image, and a step analysis of the obtained results and determination of the location of the halftone reference image on the halftone current image. A solution is proposed using a specific example. The practical value of the proposed approach is that a complex halftone image with a large number of brightness levels can be reduced to simple binary matrices, most of which are simply excluded from the processing process. At the same time, there remains a choice of the method of determining the binary slice of the standard on the field of the binary slice of the current image.

Необхідність створення нових ефективних підходів та методів для роботи зорових систем мобільних роботів для задач ідентифікації та виявлення об’єктів обумовлено вимогами сьогодення. Метою роботи є аналіз особливостей оброблення напівтонового зображення за методом бінарних зрізів для виявлення еталонного зображення на полі поточного зображення. В якості методів дослідження було використано метод аналізу, абстрагування та аналогії. У статті запропонований підхід до виявлення еталонного напівтонового зображення на поточному напівтоновому зображенні. Для цього розгляну-то особливості застосування методу бінарних зрізів для передоброблення напівтонового зображення у поєднанні з методами, що дозволяють виявити еталонне бінарне зображення на поточному бінарному зображенні. Підхід, що пропонується, містить етап формування множини бінарних зрізів напівтонового поточного зображення, етап формування множини бінарних зрізів напівтонового еталонного зображення, етап встановлення відповідності бінарних зрізів еталона до бінарних зрізів поточного зображення, етап визначення місцерозташування кожного бінарного зрізу еталона на відповідному зрізі поточного зображення та етап аналізу отриманих результатів та визначення місцерозташування напівтонового еталонного зображення на напівтоновому поточному зображенні. Запропоновані рішення розглянуто на конкретному прикладі. Практична цінність запропанованого підходу полягає в тому, що складноструктуроване напівтонове зображення з великою кількістю рівнів яскравості можна привести до простих бінарних матриць, більша частина з яких просто виключається з процесу оброблення. При цьому залишається вибір варіанту методу визначення бінарного зрізу еталону на полі бінарного зрізу поточного зображення.