• English
    • українська
  • English 
    • English
    • українська
  • Login
View Item 
  • Frontpage
  • Науково-технічна бібліотека
  • Публікації співробітників бібліотеки
  • JetIQ
  • View Item
  • Frontpage
  • Науково-технічна бібліотека
  • Публікації співробітників бібліотеки
  • JetIQ
  • View Item
Сайт інституційного репозитарію ВНТУ містить роботи, матеріали та файли, які були розміщені докторантами, аспірантами та студентами Вінницького Національного Технічного Університету. Для розширення функцій сайту рекомендується увімкнути JavaScript.

Фазовий метод вимірювання поверхневої щільності паперових матеріалів

Author
Барилко, С. В.
Дащенко, В. Д.
Date
2025
Metadata
Show full item record
Collections
  • JetIQ [207]
Abstract
В статті наводяться основні залежності фазового зсуву від поверхневої щільності для ультразвукових хвиль, що пройшли крізь контрольований паперовий матеріал, та для хвиль, які відбилися від матеріалу. Також запропонований та розглянутий фазовий ультразвуковий метод вимірювання поверхневої щільності паперового матеріалу. У статті наведено результати теоретичних і експериментальних досліджень, спрямованих на вивчення фазових характеристик ультразвукових хвиль у взаємодії з паперовими матеріалами різної поверхневої щільності. Основну увагу приділено аналізу залежності фазового зсуву від поверхневої щільності для двох випадків: коли ультразвукова хвиля проходить крізь контрольований зразок та коли вона відбивається від його поверхні. Детально розглядається вплив технологічного параметру паперового матеріалу на зміну фазових параметрів сигналу, що дозволяє встановити кількісні та якісні закономірності цього процесу. Запропоновано фазовий ультразвуковий метод визначення поверхневої щільності, який базується на реєстрації фазового зсуву хвиль у різних режимах поширення. Метод має низку переваг порівняно з традиційними способами контролю, зокрема високу чутливість до малих змін щільності, відносну простоту реалізації та можливість застосування в автоматизованих інформаційно-вимірювальних системах. Сучасні системи дадуть змогу проводити цілодобове вимірювання технологічного параметру на виробничій лінії з врахуванням великих площ самого матеріалу, що необхідно враховувати в процесі змотування та пакування готової продукції. Окремо зроблено акцент на потенціалі цього підходу для безконтактного контролю та моніторингу якості в процесі виробництва паперу та інших тонких волокнистих матеріалів. Отримані результати можуть бути використані для подальшої розробки удосконалених методів неруйнівного контролю, спрямованих на підвищення точності та надійності визначення поверхневої щільності. Це відкриває перспективи практичного застосування у целюлозно-паперовій промисловості, а також у суміжних галузях, де необхідна висока якість та однорідність тонких матеріалів.
URI:
https://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/50916
View/Open
197480.pdf (765.3Kb)

Institutional Repository

FrontpageSearchHelpContact UsAbout Us

University Resources

JetIQLibrary websiteUniversity websiteE-catalog of VNTU

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypePublisherLanguageUdcISSNPublicationDOIThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypePublisherLanguageUdcISSNPublicationDOI

My Account

LoginRegister

Statistics

View Usage Statistics

ISSN 2413-6360 | Frontpage | Send Feedback | Help | Contact Us | About Us
© 2016 Vinnytsia National Technical University | Extra plugins code by VNTU Linuxoids | Powered by DSpace
Працює за підтримки 
НТБ ВНТУ