Show simple item record

dc.contributor.authorМоставлюк, А. С.uk
dc.date.accessioned2016-01-26T14:25:19Z
dc.date.available2016-01-26T14:25:19Z
dc.date.issued2007uk_UA
dc.identifier.citationМоставлюк А. С. Симетрично структуровані нвч детектори в системних вимірювачах мікрохвильових параметрів трактів [Текст] / А. С. Моставлюк // Вісник Вінницького політехнічного інституту. - 2007. - № 5. - С. 30-33.uk
dc.identifier.issn1997-9274
dc.identifier.issn1997-9266
dc.identifier.urihttp://visnyk.vntu.edu.ua/index.php/visnyk/article/view/500
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/5737
dc.description.abstractЗапропоновано структурне рішення системних НВЧ детекторних вимірювачів мікрохвильових параметрів трактів з високою метрологічною надійністю та точністю, яке дозволяє зменшити переважну інструментальну похибку рефлектометра та вимірювача затухання.uk
dc.description.abstractПредложено структурное решение системных СВЧ детекторных измерителей микроволновых параметров трактов с высокой метрологической надежностью и точностью, которое позволяет уменьшить превалирующую инструментальную погрешность рефлектометра и измерителя затухания.ru
dc.description.abstractStructural solution of system SHF detector measuring devices of microwave parameters of tracts with high metrological reliability and accuracy, which allow to decrease prevalent instrumental error reflectometer and attenuation gauge, is suggested.en
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherВНТУuk
dc.titleСиметрично структуровані нвч детектори в системних вимірювачах мікрохвильових параметрів трактівuk
dc.title.alternativeSymmetrically-structured stif detectors in system measuring devises of microwave parameters of pathsen
dc.title.alternativeСимметрично структурированные свч детекторы в системных измерителях микроволновых параметров трактовru
dc.typeArticle
dc.identifier.udc621.317


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record