Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці

Abstract

Запропоновано метод визначення максимуму розподілення яскравості світлової плями із субпікселною точністю на основі зсуву багатоелементного фотоприймального пристрою. Проведено експериментальні дослідження, що підтверджують ефективність методу, а також дана порівняльна характеристика запропонованого та існуючих методів.Предложен метод определения энергетического центра светового пятна с субпикселной точностью на основе сдвига многоэлементного фотоприемного устройства. Проведены экспериментальные исследования, которые подтверждают эффективность метода, а также дана сравнительная характеристика предложенного и существующих методов.The method for determination of the dispersion spot with sub-pixel accuracy based on displacement of multi-unit photodetector is proposed. Experimental research were carried out, which confirm the efficiency of the method, the comparative analysis of existent methods with proposed method was performed.