<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Вологочутливий двозатворний МДН-транзистор

Вантажиться...
Ескіз

Дата

Науковий керівник

Редактор

Інші учасники

Відповідальний

ORCID

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

DOI

Альтернативна назва

Humidity-sensitive dual-gate MIS-transistor
Влагочувствительный двухзатворный МДП-транзистор

Анотація

Розроблено структуру і проведено математичне моделювання двозатворного вологочутливого МДН-транзистора з чутливим шаром з пористого кремнію, на основі якого отримано аналітичну залежність повного опору структури, а також графічні залежності активної, реактивної складових повного опору та ємності структури від зміни вологості навколишнього середовища. В діапазоні відносної вологості від 10 до 90 % ємність структури змінюється від 200 до 700 мкФ.
Разработана структура и проведено математическое моделирование двухзатворного влагочувствительного МДП-транзистора с чувствительным слоем из пористого кремния, на основе которого получена аналитическая зависимость полного сопротивления структуры, а также графические зависимости активной, реактивной составляющих полного сопротивления и емкости структуры от изменения влажности окружающей среды. В диапазоне относительной влажности от 10 до 90 % емкость структуры изменяется от 200 до 700 мкФ.
The paper deals with the structure and mathematical modeling of dual-gate humidity-sensitive MIS-transistor based on porous silicon oxide. Authors received analytical dependence of the impedance of the structure and graphic dependences of active and reactive component impedance and capacities of the structure with changes of ambient humidity. In the range of relative humidity from 10 to 90% capacity of the structure varies from 200 to 700 uF.

Опис

УДК

Тип документа

Мова

Є частиною

Посилання на публікацію

Серія, номер

ISBN

ББК

Інші ідентифікатори

Пов’язані матеріали

Спонсорська підтримка

Правовласник

Бібліографічний опис

Осадчук А. .. Вологочутливий двозатворний МДН-транзистор [Текст] / О. В. Осадчук, А. Ю. Савицький // Вісник Вінницького політехнічного інституту. - 2010. - № 6. - С. 93-96.

Схвалення

Рецензія

Доповнено

Цитується в