Моделювання впливу струму витікання в логарифмічних АЦП з накопиченням заряду з імпульсним від’ємним зворотним зв’язком

Abstract

Запропоновано математичні моделі похибок від струмів витікання в логарифмічних АЦП з накопиченням заряду з імпульсним зворотним зв‘язком, наведено результати моделювання та дано оцінку точності.Предложены математические модели погрешностей от токов утечки логарифмических АЦП с накоплением заряда с импульсной обратной связью, приведены результаты моделирования и дана оценка точности.Mathematical models of errors of leakage currents in logarithmic ADC, based on accumulation of a charge and pulse feedback are offered, the results of modelling are presented and the evaluation of accuracy are given.