Показати скорочену інформацію

dc.contributor.authorМичуда, З. Р.uk
dc.contributor.authorМичуда, Л. З.uk
dc.contributor.authorАнтонів, У. С.uk
dc.date.accessioned2016-01-26T15:36:22Z
dc.date.available2016-01-26T15:36:22Z
dc.date.issued2011
dc.identifier.citationМичуда З. Р. Моделювання впливу струму витікання в логарифмічних АЦП з накопиченням заряду з імпульсним від’ємним зворотним зв’язком [Текст] / З. Р. Мичуда, Л. З. Мичуда, У. С. Антонів // Вісник Вінницького політехнічного інституту. - 2011. - № 5. - С. 164-166.uk
dc.identifier.issn1997-9274
dc.identifier.issn1997-9266
dc.identifier.urihttp://visnyk.vntu.edu.ua/index.php/visnyk/article/view/1543
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/6373
dc.description.abstractЗапропоновано математичні моделі похибок від струмів витікання в логарифмічних АЦП з накопиченням заряду з імпульсним зворотним зв‘язком, наведено результати моделювання та дано оцінку точності.uk
dc.description.abstractПредложены математические модели погрешностей от токов утечки логарифмических АЦП с накоплением заряда с импульсной обратной связью, приведены результаты моделирования и дана оценка точности.ru
dc.description.abstractMathematical models of errors of leakage currents in logarithmic ADC, based on accumulation of a charge and pulse feedback are offered, the results of modelling are presented and the evaluation of accuracy are given.en
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherВНТУuk
dc.titleМоделювання впливу струму витікання в логарифмічних АЦП з накопиченням заряду з імпульсним від’ємним зворотним зв’язкомuk
dc.title.alternativeSimulation of leakage current influence in logarithmic ADC charge storage with pulse negative feedbacken
dc.title.alternativeМоделирование воздействия тока утечки в логарифмических АЦП с накоплением заряда с импульсной отрицательной обратной связьюru
dc.typeArticle
dc.identifier.udc681.335 (088.8)


Файли в цьому документі

Thumbnail

Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)

Показати скорочену інформацію