dc.contributor.author | Осадчук, О. В. | uk |
dc.contributor.author | Барабан, С. В. | uk |
dc.contributor.author | Семенов, А. О. | uk |
dc.date.accessioned | 2016-03-23T11:44:20Z | |
dc.date.available | 2016-03-23T11:44:20Z | |
dc.date.issued | 2012 | |
dc.identifier.citation | Осадчук О. В. Підвищення вірогідності неруйнівного контролю структурних перетворень некристалічних напівпровідників [Текст] / О. В. Осадчук, C. В. Барабан, А. О. Семенов // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. - 2012. - № 2. - С. 79-82. | uk |
dc.identifier.issn | 2219-9365 | |
dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/9202 | |
dc.description.abstract | У роботі розв’язано важливу науково‐практичну проблему, яка полягає в створенні методів і засобів неруйнівного контролю структурних перетворень некристалічних напівпровідників, що дозволяють підвищити вірогідність контролю. Проведено оцінювання вірогідності контролю при реалізації методу неруйнівного
контролю структурних перетворень некристалічних напівпровідників на основі диференційно‐термічного аналізу. | uk |
dc.description.abstract | In this wok an important scientific and practical problem has been solved. It is creating methods and facilities of an uncrystalline semiconductors structure transformation non‐destroying control, which allows a control reliability increasing. The control reliability has been estimated while realizing the method of the uncrystalline semiconductors structure transformation non‐destroying control based on differential‐thermal analysis. | en |
dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
dc.publisher | Хмельницький національний університет | uk |
dc.subject | неруйнівний контроль | uk |
dc.subject | вірогідність | uk |
dc.subject | автогенератор | uk |
dc.subject | некристалічні напівпровідники | uk |
dc.subject | моделювання | uk |
dc.title | Підвищення вірогідності неруйнівного контролю структурних перетворень некристалічних напівпровідників | uk |
dc.type | Article | |
dc.identifier.udc | 658.562.42 | |