Огляд методів визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідниках
| dc.contributor.author | Осадчук, В. С. | uk |
| dc.contributor.author | Осадчук, О. В. | uk |
| dc.contributor.author | Дуда, Р. В. | uk |
| dc.date.accessioned | 2016-03-24T22:40:16Z | |
| dc.date.available | 2016-03-24T22:40:16Z | |
| dc.date.issued | 2013 | |
| dc.identifier.citation | Осадчук В. С.Огляд методів визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідниках [Текст] / В. С. Осадчук, О. В. Осадчук, С. В. Барабан / Матеріали 9-ої Міжнародної науково-практичної конференції «Новости научной мысли-2013». - Praha : Publishing house «Education and Science» s.r.o., 2013. – Dil. 25. - С. 26-33. | uk |
| dc.identifier.isbn | 978-966-8736-05-6 | |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/9228 | |
| dc.description.abstract | Час життя носіїв заряду в напівпровідниках є важливою складовою, що визначає параметри матеріалу, які в свою чергу впливають на характеристики напівпровідникових пристроїв, які використовують електронні властивості носіїв заряду. Існує значна кількість методів визначення часу життя, проте всі вони є не досить точними. Тому необхідно проводити додаткові дослідження для підвищення точності виміру цього параметру. | uk |
| dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
| dc.publisher | Publishing house «Education and Science» s.r.o | en |
| dc.subject | напівпровідники | uk |
| dc.subject | час життя | uk |
| dc.subject | носії заряду | uk |
| dc.subject | вимірювання | uk |
| dc.title | Огляд методів визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідниках | uk |
| dc.type | Thesis |
Файли в цьому документі
Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)
-
Наукові роботи каф. ІРТС [778]
статті, матеріали конференцій