| dc.contributor.author | Осадчук, О. В. | uk |
| dc.contributor.author | Нікешин, Ю. І. | uk |
| dc.date.accessioned | 2017-02-19T13:20:03Z | |
| dc.date.available | 2017-02-19T13:20:03Z | |
| dc.date.issued | 2014 | |
| dc.identifier.citation | Осадчук О. В. Методи та засоби вимірювання напівпровідникового опору на основі перетворювачів з частотним виходом [Текст] / О. В. Осадчук, Ю. І. Нікешин // Materialy x mi^dzynarodowej naukowi-praktycznej konferencji "Strategiczne pytania swiatowej nauki - 2014", 07-15 lutego 2014 roku. - Przemysl : Nauka і studia, 2014. - Vol. 35 : Techniczne nauki. - S. 47-54. | pl |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/14224 | |
| dc.description.abstract | На сьогоднішній день існує велика потреба в застосуванні вимірювання питомого
опору на напівпровідникових зразках (виготовлення мікропроцесорів,
мікроконтролерів, схем пам'яті та ін.). Існує багато засобів, методів та приладів
для вимірювання напівпровідникового опору. Багато методів вимірювання питомого
електричного опору матеріалів засновані на вимірюванні різних електричних
потенціалів на деяких зразках, через які проходить електричний струм. Ми
розглянемо найбільш актуальні на теперішній момент можливості вимірювання
питомого опору на напівпровідникових зразках. | uk |
| dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
| dc.publisher | Sp. zo. o "Nauka i studia" | en |
| dc.relation.ispartof | Materialy x mi^dzynarodowej naukowi-praktycznej konferencji "Strategiczne pytania swiatowej nauki - 2014", 07-15 lutego 2014 r. Vol. 35 : 47-54. | pl |
| dc.subject | від'ємний опір | uk |
| dc.subject | вимірювання | uk |
| dc.subject | транзисторна структура з від'ємним опором | uk |
| dc.subject | чутливість | uk |
| dc.subject | частота | uk |
| dc.subject | частотний перетворювач | uk |
| dc.title | Методи та засоби вимірювання напівпровідникового опору на основі перетворювачів з частотним виходом | uk |
| dc.type | Thesis | |
