Показати скорочену інформацію

dc.contributor.authorАнтощук, С. Г.uk
dc.contributor.authorЩербакова, Г. Ю.uk
dc.contributor.authorКошутіна, Д. В.uk
dc.date.accessioned2026-03-25T10:17:36Z
dc.date.available2026-03-25T10:17:36Z
dc.date.issued2025uk
dc.identifier.citationАнтощук С. Г., Щербакова Г. Ю., Кошутіна Д. В. Оцінка параметрів компонентів електроніки при відборі їх для апаратури відповідального призначення на основі кластеризації з вейвлет-обробкою та врахуванням обмежень // Наукові праці Вінницького національного технічного університету. 2025. Електр. текст. дані (PDF: 1,03 МБ). № 3. URI: https://praci.vntu.edu.ua/index.php/praci/article/view/863.uk
dc.identifier.issn2307-5376uk
dc.identifier.urihttps://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/50970
dc.description.abstractУ статті розглянуто методи оцінки параметрів компонентів електроніки при відборі їх для апаратури відповідального призначення. Це може бути необхідним при комплектації важливих складних систем електроніки якісною компонентною базою. Для забезпечення цього під час виробництва електронних компонентів часто необхідно відібрати для таких систем надійніші. Один із важливих підходів при цьому – вибір моделі оцінки надійності та оцінка її параметрів. Значна частина таких підходів потребує удосконалення методів обробки, а саме – кластеризації. Відомі методи кластеризації, засновані на оцінюванні градієнта, є поширеними в задачах, де потрібна надійна обробка даних за наявності шуму та мультимодальності. Проте їх використання обмежується низькою стійкістю до шумів та високими обчислювальними витратами. Метою цієї роботи є розробка та дослідження методу кластеризації, що використовує вейвлет-функції для введення обмежень і забезпечує стабільну роботу в умовах шуму. Дослідження включало аналіз наявних підходів, розробку методу кластеризації з обмеженнями типу нерівностей, що отримані за рахунок вейвлет-обробки, алгоритму його реалізації та експериментальну оцінку. Запропонований метод ґрунтується на обробці із гіперболічними вейвлет-функціями та вейвлет-функціями Хаара, що дозволяють зменшити кількість оцінок значень цільової функції, скоротити обчислювальні етапи та прискорити збіжність задач з використанням кластеризації. На основі такої кластеризації удосконалено методи визначення інтенсивності відмов та параметрів DN-розподілу для оцінки надійності при відборі компонентів та процедура реалізації цих методів. Метод випробуваний на прикладі відбракування резисторів за рівнем шуму та стабільності. Підвищення швидкодії за збереження достатньої стійкості до перешкод і достовірності процедури відбраковування досягається за рахунок застосування в цьому методі кластеризації з вейвлет-функціями з урахуванням обмежень. Цей результат дозволяє рекомендувати розроблений метод при відборі компонентів, призначених для апаратури відповідального призначення.uk_UA
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherВНТУuk
dc.relation.ispartofНаукові праці Вінницького національного технічного університету. № 3.uk
dc.subjectапаратура відповідального призначенняuk
dc.subjectкластеризаціяuk
dc.subjectвейвлет-перетворенняuk
dc.subjectобмеження-нерівностіuk
dc.subjectоптимізаціяuk
dc.subjectзавадостійкістьuk
dc.subjectнадійністьuk
dc.subjectекспоненціальний розподіл DN-розподілuk
dc.titleОцінка параметрів компонентів електроніки при відборі їх для апаратури відповідального призначення на основі кластеризації з вейвлет-обробкою та врахуванням обмеженьuk
dc.typeArticle, professional native edition
dc.identifier.udc519.6:004.93uk
dc.relation.referenceshttps://praci.vntu.edu.ua/index.php/praci/article/view/863uk
dc.identifier.doihttps://doi.org/10.31649/2307-5376-2025-3-27-36uk
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/uk


Файли в цьому документі

Thumbnail

Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)

Показати скорочену інформацію