Математична шумова модель інтегральних операційних підсилювачів для прогнозування надійності за рівнем низькочастотного шуму

Abstract

Запропоновано математичну шумову модель операційних підсилювачів, для прогнозування їх надійності за рівнем низькочастотного шуму на етапі виготовлення та вхідного контролю. Дослідження моделі показали, що рівень шумової напруги є вищим у приладах із p-n-ізоляцією, а також значний вплив вносить рівень вхідного струму.

Предложена математическая шумовая модель операционных усилителей, для прогнозирования их надежности по уровню низкочастотного шума на этапе изготовления и входного контроля. Исследования модели показали, что уровень шумового напряжения выше в приборах с p-n-изоляцией, а также что значительное влияние оказывает уровень входного тока.

The mathematical noise model of operational amplifiers is offered, for forecast of their reliability by the level of low-frequency noise on the stage of manufacture and input control. Research of this model showed that the level of noise voltage was higher in devices with p-n-insulation, and also it was showed considerable influence exercised by the level of input current.