Мікроелектронний чотиризондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору
Вантажиться...
Файли
Дата
Науковий керівник
Редактор
Інші учасники
Відповідальний
ORCID
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
DOI
Альтернативна назва
Микроэлектронное четырех-зондовое устройство для измерения полупроводникового сопротивления
Microelectronic four-probe device for measurement of semiconductor resistance
Microelectronic four-probe device for measurement of semiconductor resistance
Анотація
Мікроелектронний чотиризондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору містить котушку індуктивності і ємність, яка підключена до джерела живлення. В нього введено чотири зонди, друге джерело живлення, два резистори, біполярний транзистор та польовий транзистор.
Микроэлектронное четырехзондовое устройство для измерения полупроводникового сопротивления содержит катушку индуктивности и емкость, которая подключена к источнику питания. В него введены четыре зонда, второй источник питания, два резистора, биполярный транзистор и полевой транзистор.
A microelectronic four-probe device for measurement of semiconductor resistance comprises an inductance coil and a capacitor connected to a power source. Four probes, a second power source, two resistors, a bipolar transistor and a field-effect transistor are incorporated.
Микроэлектронное четырехзондовое устройство для измерения полупроводникового сопротивления содержит катушку индуктивности и емкость, которая подключена к источнику питания. В него введены четыре зонда, второй источник питания, два резистора, биполярный транзистор и полевой транзистор.
A microelectronic four-probe device for measurement of semiconductor resistance comprises an inductance coil and a capacitor connected to a power source. Four probes, a second power source, two resistors, a bipolar transistor and a field-effect transistor are incorporated.
Опис
УДК
Тип документа
Мова
Є частиною
ISSN
Посилання на публікацію
Серія, номер
ISBN
ББК
Інші ідентифікатори
66947
Пов’язані матеріали
Спонсорська підтримка
Правовласник
Бібліографічний опис
Пат. 66947, МПК H01L 21/66, G01R 31/26. Мікроелектронний шестизондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору [Текст] / О. В. Осадчук, Ю. І. Нікешин (Україна). - № u201108127 ; заявл. 29.06.2011 ; опубл. 25.01.2012, Бюл. № 2. - 2 с. : кресл.