Засіб вхідного контролю молекулярної структури некристалічних напівпровідників

Abstract

Запропоновано апаратно-програмну реалізацію засобу вхідного контролю молекулярної структури некристалічних напівпровідників на основі частотних вимірювальних перетворювачів. Проведено аналіз основних метрологічних характеристик розробленого засобу вхідного контролю.

Предложена аппаратно-программная реализация средства входного контроля молекулярной структуры некристаллических полупроводников на основе частотных измерительных преобразователей. Проведен анализ основных метрологических характеристик разработанного средства входного контроля.

Hardwarily-programmatic realization of means of entrance control of molecular structure of noncrystalline semiconductors is offered on the basis of frequency measuring transformers. The analysis of basic metrology descriptions of the worked out means of entrance control is conducted.