Засоби вимірювального контролю товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхонь
Вантажиться...
Дата
Автори
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
DOI
Анотація
Опис
Ключові слова
УДК
Тип документа
Мова
Є частиною
ISSN
Бібліографічний опис
Кучерук В. Ю. Засоби вимірювального контролю товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхонь [Текст] / В. Ю. Кучерук, К. В. Овчинников // Перша міжнародна наукова конференція пам'яті професора Володимира Поджаренка "Вимірювання, контроль та діагностика в технічних системах (ВКДТС-2011), 18-20 жовтня 2011 р. - 2011. - С. 96.