Засоби вимірювального контролю товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхонь
Author
Кучерук, В. Ю.
Овчинников, К. В.
Date
2011Metadata
Show full item recordCollections
- Наукові роботи каф. ІРТС [779]
Please use this identifier to cite or link to this item:
http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/8097