Засоби вимірювального контролю товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхонь
Автор
Кучерук, В. Ю.
Овчинников, К. В.
Дата
2011Metadata
Показати повну інформаціюCollections
- Наукові роботи каф. ІРТС [779]
URI:
http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/8097