Метод вхідного контролю фазових переходів халькогенідних склоподібних напівпровідників

Abstract

Наукова новизна роботи полягає в тому, що удосконалено метод вхідного контролю фазових переходів халькогенідних склоподібних напівпровідників на основі безконтактного диференційно-термічного аналізу, який відрізняється від існуючих новим алгоритмом проведення операції контролю та засобом контролю, який реалізує даний алгоритм, що дозволило підвищити значення вірогідності контролю до 0,97.