Аналіз систем диференційно-термічного аналізу напівпровідників

Abstract

Як вихід з існуючих проблем і альтернативу вже існуючим і широко використовуваним в техніці системам ДТА напівпровідників пропонуємо власний засіб на основі безконтактних вимірювальних перетворювачів з частотним виходом. Частотний вихід вимірювальних перетворювачів дозволить подолати окреслені вище проблеми існуючих ДТА-систем, підвищити їх швидкодію, а можливість безконтактного вимірювання температури дозволить знизити систематичну похибку визначення температури напівпровідників.