Показати скорочену інформацію

Методи і засоби вимірювання параметрів безструктурних моделей багатоелектродних напівпровідникових структур

dc.contributor.authorГаврілов, Д. В.uk
dc.contributor.authorФілинюк, М. А.uk
dc.contributor.authorЛіщенко, С. А.uk
dc.date.accessioned2016-02-19T16:54:37Z
dc.date.available2016-02-19T16:54:37Z
dc.date.issued2002
dc.identifier.citation
dc.identifier.citationГаврілов Д. В. Методи і засоби вимірювання параметрів безструктурних моделей багатоелектродних напівпровідникових структур [Текст] / Д. В. Гаврілов, С. А. Ліщенко, М. А. філинюк // Вісник ЖІТІ. Серія "Технічні науки". - 2002. - Спец. вип. - С. 6-10.uk
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/8483
dc.description.abstractРозглядаються методи вимірювання параметрів безструктурних моделей багатоелектродних напівпровідникових структур.uk
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherЖитомирський інженерно-технологічний інститутuk
dc.relation.ispartofseriesТехнічні наукиuk
dc.subjectтранзисторuk
dc.subjectчотириполючникuk
dc.subjectвід'ємний опірuk
dc.subjectвимірюванняuk
dc.subjectкоефіцієнт підсиленняuk
dc.subjectповний опірuk
dc.titleМетоди і засоби вимірювання параметрів безструктурних моделей багатоелектродних напівпровідникових структурuk
dc.typeArticle
dc.identifier.udc621.317


Файли в цьому документі

Thumbnail
Ім'я:
2.pdf
Розмір:
882.5Kb
Формат:
PDF
Опис:
Стаття
Відкрити

Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)

Показати скорочену інформацію