Автоматизована інформаційна система частотного вимірювання товщини
Abstract
Розробка нових вимірювачів товщини матеріалів та покриттів з високими метрологічними якостями є актуальним завданням, пов'язаним з широкою сферою промислових та технологічних процесів.
URI:
http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/9232