<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Мікроелектронний чотиризондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору

Альтернативна назва

Микроэлектронное четырехзондовое устройство для измерения полупроводникового сопротивления
MICROELECTRONIC FOUR-PROBE DEVICE FOR MEASUREMENT OF SEMICONDUCTOR RESISTANCE

Анотація

Мікроелектронний чотиризондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору містить котушку індуктивності, яка підключена до джерела живлення. Введено чотири зонди. Другий та третій з'єднані з біполярним транзистором. Перший та четвертий з'єднані з першим джерелом живлення.
Микроэлектронное четырехзондовое устройство для измерения полупроводникового сопротивления содержит катушку индуктивности, подключенную к источнику питания. Введены четыре зонда. Второй и третий соединены с биполярным транзистором. Первый и четвертый соединены с первым источником питания.
A microelectronic four-probe device for measuring semiconductor resistance comprises an inductance coil connected to a power source. Four probes are introduced. The second and third probes are connected to a bipolar transistor. The first and fourth probes are connected to the first power source.

Опис

УДК

Тип документа

Мова

Є частиною

ISSN

Посилання на публікацію

Серія, номер

ISBN

ББК

Інші ідентифікатори

76387

Пов’язані матеріали

Спонсорська підтримка

Правовласник

Бібліографічний опис

Пат. 76387 UA, МПК H01L 21/66, G01R 31/26. Мікроелектронний чотиризондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору [Текст] / Ю. І. Нікешин, О. В. Осадчук (Україна). - № u201203166 ; заявл. 19.03.2012 ; опубл. 10.01.2013, Бюл. № 1. - 4 с. : кресл.

Схвалення

Рецензія

Доповнено

Цитується в