<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Using The Thermal-Field Measurements To Evaluation The Parameters Of The MC Based On AS.

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorKychak, V. M.en
dc.contributor.authorSlobodyan, I. V.en
dc.contributor.authorКичак, В. М.uk
dc.contributor.authorСлободян, І. В.uk
dc.titleUsing The Thermal-Field Measurements To Evaluation The Parameters Of The MC Based On AS.en
dc.date.issued2012
dc.publisherНаціональний університет "Львівська політехніка"uk
dc.identifier.citationKychak V. M. Using The Thermal-Field Measurements To Evaluation The Parameters Of The MC Based On AS [Text] / V. M. Kychak, I. V. Slobodyan // Proceeding of the XI-th International Conference "Modern problems of radio engineering , telecommunication and computer science (TCSET`2012), Ukraine, Lviv- Slavske, February 21-24, 2012. – 2012. – P. 153-154.en
dc.relation.ispartofProceeding of the XI-th International Conference "Modern problems of radio engineering , telecommunication and computer science (TCSET`2012), Ukraine, Lviv- Slavske, February 21-24, 2012 : 153-154.en
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/15213
dc.description.abstractУ цій роботі термополеві вимірювання для оцінювання параметрів комірки пам'яті (КП) на основі аморфного напівпровідника (АН) використано для аналізу температурної залежності диференціальної електропровідності комірки пам'яті.uk
dc.description.abstractIn this paper the thermal –field measurements for evaluating the parameters of the memory cell (MC) based on amorphous semiconductor (AS) are used for the analysis of the temperature dependence of differential electrical conductivity of memory cell.en
dc.subjectamprphous semiconductoren
dc.subjectmemory cellen
dc.subjectelectrical conductivityen
dc.subjectаморфний напівпровідникuk
dc.subjectкомірка пам'ятіuk
dc.subjectелектропровідністьuk
dc.typeThesis
dc.language.isoenen
dc.date.accessioned2017-04-12T08:31:18Z
dc.date.available2017-04-12T08:31:18Z

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
_6_Using The Thermal-Field Measurements To Evaluation The Parameters Of The MC Based On AS.pdf
Розмір:
226,04 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
2,14 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Наукові видання каф. ІКСТ