<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Статистичні методи для виявлення аномалій у даних із застосуванням мови програмування Python

Вантажиться...
Ескіз

Дата

Науковий керівник

Редактор

Інші учасники

Відповідальний

ORCID

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

DOI

Альтернативна назва

Анотація

У роботі розглядається розробка програмної реалізації статистичних методів для виявлення аномалій у даних із використанням мови програмування Python. Досліджуються підходи до обробки даних, аналізу статистичних відхилень і побудови алгоритмів для автоматизованого виявлення аномалій.
The paper examines the development of a software implementation of statistical methods for anomaly detection in data using the Python programming language. It explores approaches to data processing, analysis of statistical deviations, and the construction of algorithms for automated anomaly detection.

Опис

УДК

Тип документа

Мова

ISSN

Серія, номер

ISBN

978-617-8132-48-8

ББК

Інші ідентифікатори

Пов’язані матеріали

Спонсорська підтримка

Правовласник

Бібліографічний опис

Вараниця М. С. Статистичні методи для виявлення аномалій у даних із застосуванням мови програмування Python // Матеріали LIV Всеукраїнської науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 24-27 березня 2025 р. Електрон. текст. дані. 2025. URI: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2025/paper/view/24516

Схвалення

Рецензія

Доповнено

Цитується в

Список використаної літератури (5)

  1. Aggarwal C. C. Outlier Analysis / C. C. Aggarwal. – 2nd ed. – Cham: Springer, 2017. – 492 p.
  2. Chandola V. Anomaly Detection: A Survey / V. Chandola, A. Banerjee, V. Kumar // ACM Computing Surveys. – 2009. – Vol. 41, No. 3. – P. 1–58.
  3. Raschka S. Python Machine Learning / S. Raschka, V. Mirjalili. – 3rd ed. – Birmingham: Packt Publishing, 2019. – 770 p.
  4. Pedregosa F. Scikit-learn: Machine Learning in Python / F. Pedregosa, G. Varoquaux, A. Gramfort, et al. // Journal of Machine Learning Research. – 2011. – Vol. 12. – P. 2825–2830.
  5. Bishop C. M. Pattern Recognition and Machine Learning / C. M. Bishop. – New York: Springer, 2006. – 738 p.