Імітаційна модель для дослідження ефективності методів діагностики пам'яті
Вантажиться...
Файли
Дата
Автори
Науковий керівник
Редактор
Інші учасники
Відповідальний
ORCID
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
DOI
Альтернативна назва
Анотація
дослідження ефективності детермінованих (March-алгоритми) та стохастичних (Random-LFSR) методів діагностики пам'яті. Експериментально визначено покриття різних типів несправностей (SAF, TF, CF, PSF).
deterministic (March algorithms) and stochastic (Random-LFSR) memory diagnostic methods. Fault coverage for different fault types (SAF, TF, CF, PSF) was experimentally determined. March B achieves 100% coverage for
deterministic (March algorithms) and stochastic (Random-LFSR) memory diagnostic methods. Fault coverage for different fault types (SAF, TF, CF, PSF) was experimentally determined. March B achieves 100% coverage for
Опис
Ключові слова
Тип документа
Мова
ISSN
Посилання на публікацію
Серія, номер
ISBN
ББК
Інші ідентифікатори
Пов’язані матеріали
Спонсорська підтримка
Правовласник
Бібліографічний опис
Главчев М. І. Імітаційна модель для дослідження ефективності методів діагностики пам'яті // Матеріали LV Всеукраїнської науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 24-27 березня 2026 р. Електрон. текст. дані. 2026. Електрон. текст. дані. 2026. URI: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2026/paper/view/27497.
Схвалення
Рецензія
Доповнено
Цитується в
Список використаної літератури (4)
- Van de Goor A. J. Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice. John Wiley & Sons, 1991. 345 p.
- Bushnell M., Agrawal V. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits. Springer Science & Business Media, 2000. 690 p.
- Hamdioui S., van de Goor A. J., Rodgers M. March SS: A test for all static simple RAM faults // Proceedings of the IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing. 2002. P. 95–100. DOI: 10.1109/MTDT.2002.1029767
- Schroeder B., Pinheiro E., Weber W.D. DRAM errors in the wild: A large-scale field study // Proceedings of the ACM SIGMETRICS. 2009. Vol. 37, Issue 1. P. 193–204.