<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Імітаційна модель для дослідження ефективності методів діагностики пам'яті

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorГлавчев, М. І.uk
dc.contributor.authorGlavchev, M. I.en
dc.titleІмітаційна модель для дослідження ефективності методів діагностики пам'ятіuk
dc.date.issued2026
dc.publisherВінницький національний технічний університетuk
dc.identifier.citationГлавчев М. І. Імітаційна модель для дослідження ефективності методів діагностики пам'яті // Матеріали LV Всеукраїнської науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 24-27 березня 2026 р. Електрон. текст. дані. 2026. URI: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2026/paper/view/27497.uk
dc.relation.ispartofМатеріали LV Всеукраїнської науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 24-27 березня 2026 р.uk
dc.relation.urihttps://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2026/paper/view/27497
dc.identifier.udc004.312:004.052
dc.identifier.urihttps://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/54262
dc.description.abstractдослідження ефективності детермінованих (March-алгоритми) та стохастичних (Random-LFSR) методів діагностики пам'яті. Експериментально визначено покриття різних типів несправностей (SAF, TF, CF, PSF).uk
dc.description.abstractdeterministic (March algorithms) and stochastic (Random-LFSR) memory diagnostic methods. Fault coverage for different fault types (SAF, TF, CF, PSF) was experimentally determined. March B achieves 100% coverage foren
dc.subjectімітаційна модельuk
dc.subjectдіагностика пам'ятіuk
dc.subjectMarch-алгоритмиuk
dc.subjectпокриття дефектівuk
dc.subjectRandom-LFSRen
dc.subjectsimulation modelen
dc.subjectmemory diagnosticsen
dc.subjectMarch algorithmsen
dc.subjectfault coverageen
dc.typeThesis
dc.language.isoukuk
dc.relation.referencesVan de Goor A. J. Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice. John Wiley & Sons, 1991. 345 p.en
dc.relation.referencesBushnell M., Agrawal V. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits. Springer Science & Business Media, 2000. 690 p.en
dc.relation.referencesHamdioui S., van de Goor A. J., Rodgers M. March SS: A test for all static simple RAM faults // Proceedings of the IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing. 2002. P. 95–100. DOI: 10.1109/MTDT.2002.1029767en
dc.relation.referencesSchroeder B., Pinheiro E., Weber W.D. DRAM errors in the wild: A large-scale field study // Proceedings of the ACM SIGMETRICS. 2009. Vol. 37, Issue 1. P. 193–204.en
dc.date.accessioned2026-09-11T12:10:43Z
dc.date.available2026-09-11T12:10:43Z

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
27497.pdf
Розмір:
349,88 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
17 B
Формат:
Plain Text
Опис:
Завантажити

Зібрання

НТКП ВНТУ. Факультет інформаційних технологій та комп'ютерної інженерії (2026)