<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Аналіз метoдів та засобів вимірювaння вoлoгocті cипучих прoдуктів

Вантажиться...
Ескіз

Дата

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

DOI

Анотація

The paper analyzes and proposes a classification of methods for measuring the humidity of bulk products and identified the most relevant options for further research. Methods and means of grain moisture control are investigated. The analysis is carried out and the significant parameters influencing grain moisture are selected. The results of the analysis allow you to choose the most suitable method that provides high metrological characteristics to improve the accuracy of measurements and create a high-precision and reliable system for measuring grain moisture.

Опис

УДК

Тип документа

Мова

ISSN

Бібліографічний опис

Білинський Й. Й. Аналіз метoдів та засобів вимірювaння вoлoгocті cипучих прoдуктів [Електронний ресурс] /Й. Й. Білинський, М. О. Скалецька // Матеріали LI науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 31 травня 2022 р. – Електрон. текст. дані. – 2022. – Режим доступу: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-frtzp/all-frtzp-2022/paper/view/14854.

Схвалення

Рецензія

Доповнено

Цитується в

Список використаної літератури (4)

  1. A formal functional representation methodology for conceptual design of material-flow processing devices [Y. Chen, M. Zhao, Y. Liu, Y. Xie] - AI EDAM, 2016, Volume 30, Issue 4, pp. 353-366.
  2. Moisture Content Measurements in Solids-Limitations and Improvements with Modern Technology Third workshop on «Elektromagnetic Wave Interaction with Water and Moist Substances». / [Jachowicz R.S.] - Athens, USA, 1999. P. 32-41.
  3. Determination of Moisture Content in Wheat Using an Articial Neural Network Third workshop on «Elektromagnetic Wave Interaction with Water and Moist Substances». / [Bartly P. G., Nelson S. O., McClendon R. W., Trabelsi S.] - Athens, USA, 1999. P. 74-78.
  4. Articial Intelligence for Instruments and Measurement Applications / [Alippi C., Ferrero A., Pinri V.] - IEEE Instr.& Meas. Magazine. Vol. 47, N. 1. 1998.