<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Математична модель фізичних процесів у каналі МДН транзистора при дії температури з урахуванням напруги зміщення на затворі

Вантажиться...
Ескіз

Дата

Науковий керівник

Редактор

Інші учасники

Відповідальний

ORCID

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

DOI

Альтернативна назва

Mathematical model of physical processes in the channel of a MOS transistor under temperature exposure taking into account gate bias voltage

Анотація

Використання двозатворного польового транзистора як первинного перетворювача температури в автогенераторному сенсорі температури з частот ним виходом стимулює дослідження термоіндукованих змін параметрів МДН структур на малому змінному сигналі. Проте як свідчить аналіз літератури на сьогоднішній день недостатньо вивчені фізичні механізми впливу температури на «електронно-діркову» плазму в поверхневому шарі просторового заряду, зідсутній аналітичний опис залежності активної і реактивної складових імпедансу каналу від температури навколишнього середовища. З появою двозатворних МДН структур ці питання набули ще більшої актуальності, оскільки зазначені структури мають широкі функціональні можливості в порівнянні з однозатворними. Розгляду цих питань присвячена дана стаття.

Опис

УДК

Тип документа

Мова

ISSN

Посилання на публікацію

Серія, номер

ISBN

ББК

Інші ідентифікатори

Пов’язані матеріали

Спонсорська підтримка

Правовласник

Бібліографічний опис

Математична модель фізичних процесів у каналі МДН транзистора при дії температури з урахуванням напруги зміщення на затворі [Текст] / В. С. Осадчук, Б. С. Павлик, Я. О. Осадчук, Н. С. Кравчук // Materialy x mi^dzynarodowej naukowi-praktycznej konferencji "Naukowa mysl informacyjnej powieki - 2014", 07-15 marca 2014 roku. - Przemysl : Nauka і studia, 2014. - Vol. 30 : Techniczne nauki. - S. 37-45.

Схвалення

Рецензія

Доповнено

Цитується в