Пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів
Вантажиться...
Файли
Дата
Автори
Науковий керівник
Редактор
Інші учасники
Відповідальний
ORCID
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
DOI
Альтернативна назва
Анотація
В даній статті розглянуто осболивості багатоемітерних інтегральних транзисторів. Розроблено пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів.
In article features of integrated battleship transistors. Developed device for the study of integrated battleship transistors.
In article features of integrated battleship transistors. Developed device for the study of integrated battleship transistors.
Опис
Ключові слова
УДК
Тип документа
Мова
ISSN
Посилання на публікацію
Серія, номер
ISBN
ББК
Інші ідентифікатори
Пов’язані матеріали
Спонсорська підтримка
Правовласник
Бібліографічний опис
Осадчук Д. В. Пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів [Електронний ресурс] / Д. В. Осадчук // Матеріали XLVI науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 22-24 березня 2017 р. - Електрон. текст. дані. - 2017. - Режим доступу : https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-frtzp/all-frtzp-2017/paper/view/3005.