Пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів
| dc.contributor.author | Осадчук, Д. В. | uk |
| dc.date.accessioned | 2017-07-13T22:51:04Z | |
| dc.date.available | 2017-07-13T22:51:04Z | |
| dc.date.issued | 2017 | |
| dc.description.abstract | В даній статті розглянуто осболивості багатоемітерних інтегральних транзисторів. Розроблено пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів. | uk |
| dc.description.abstract | In article features of integrated battleship transistors. Developed device for the study of integrated battleship transistors. | en |
| dc.identifier.citation | Осадчук Д. В. Пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів [Електронний ресурс] / Д. В. Осадчук // Матеріали XLVI науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 22-24 березня 2017 р. - Електрон. текст. дані. - 2017. - Режим доступу : https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-frtzp/all-frtzp-2017/paper/view/3005. | uk |
| dc.identifier.udc | 621.38 | |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/17557 | |
| dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
| dc.publisher | Вінницький національний технічний університет | uk |
| dc.relation.ispartof | Матеріали XLVI науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 22-24 березня 2017 р. | uk |
| dc.relation.uri | https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-frtzp/all-frtzp-2017/paper/view/3005 | |
| dc.subject | наука | uk |
| dc.subject | science | en |
| dc.subject | точність | uk |
| dc.subject | швидкодія | uk |
| dc.subject | надійність | uk |
| dc.subject | precision | en |
| dc.subject | performance | en |
| dc.subject | reliability | en |
| dc.title | Пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів | uk |
| dc.type | Thesis |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1