Дослідження шумових характеристик інтегральних діодів
Вантажиться...
Дата
Науковий керівник
Редактор
Інші учасники
Відповідальний
ORCID
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
DOI
Альтернативна назва
Study of noise characteristics of integrated diodes
Анотація
В даній роботі запропоновано методику оцінки шумових характеристик для діодного вмикання інтегрального транзистора для проведення технологічного вихідного їх контролю за рівнем низькочастотних шумів
Methodology of estimation of noise descriptions is offered in this work. These descriptions are used for the diode including of integral transistors. It gives an opportunity to conduct technological control after the level of low-frequency noise.
Methodology of estimation of noise descriptions is offered in this work. These descriptions are used for the diode including of integral transistors. It gives an opportunity to conduct technological control after the level of low-frequency noise.
Опис
Ключові слова
контроль , контроль виробів електронної техніки , вироби електронної техніки , інтегральний транзистор , інтегральний діод , власні шуми , низькочастотні шуми , надійність , testing , testing of electronic products , electronic products , integrated transistor , integrated diode , intrinsic noise , low-frequency noise , reliability
УДК
Тип документа
Мова
ISSN
Посилання на публікацію
Серія, номер
ISBN
ББК
Інші ідентифікатори
Пов’язані матеріали
Спонсорська підтримка
Правовласник
Бібліографічний опис
Михалевський Д. В. Дослідження шумових характеристик інтегральних діодів [Текст] / Д. В. Михалевський // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. – 2012. – № 2. – С. 74-78.