Дослідження шумових характеристик інтегральних діодів
Вантажиться...
Дата
Автори
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
DOI
Анотація
Methodology of estimation of noise descriptions is offered in this work. These descriptions are used for
the diode including of integral transistors. It gives an opportunity to conduct technological control after the level
of low-frequency noise.
Опис
УДК
Тип документа
Мова
ISSN
Бібліографічний опис
Михалевський Д. В. Дослідження шумових характеристик інтегральних діодів [Текст] / Д. В. Михалевський // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. – 2012. – № 2. – С. 74-78.