Дослідження шумових характеристик інтегральних діодів

Abstract

В даній роботі запропоновано методику оцінки шумових характеристик для діодного вмикання інтегрального транзистора для проведення технологічного вихідного їх контролю за рівнем низькочастотних шумів

Methodology of estimation of noise descriptions is offered in this work. These descriptions are used for the diode including of integral transistors. It gives an opportunity to conduct technological control after the level of low-frequency noise.