Чисельне моделювання процесу термічної деградації діелектриків у сильних електричних полях методом Монте-Карло
Вантажиться...
Файли
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
DOI
Анотація
The kinetics of microscopic damage accumulation in solid dielectric layers under the influence of intense electric fields has been investigated. Based on statistical simulation using the Monte Carlo method, the dynamics of nucleation and growth of local defects leading to the formation of conductive channels (filaments) are reproduced. The dependence of the lifetime of microelectronic components on the applied field strength and temperature fluctuations has been determined.
Опис
УДК
Тип документа
Мова
ISSN
Бібліографічний опис
Сарафінчан С. С., Мартинюк В. В. Чисельне моделювання процесу термічної деградації діелектриків у сильних електричних полях методом Монте-Карло // Матеріали Міжнародної науково-практичної інтернет-конференції «Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи (МН-2026)», м. Вінниця, 22-26 червня 2026 р. Електрон. текст. дані. 2026. URI: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/mn/mn2026/paper/view/29280.
Схвалення
Рецензія
Доповнено
Цитується в
Список використаної літератури (1)
- 5. Головко Д. Б. Основи фізики : навч. посібник / Д. Б. Головко, К. Г. Рего, Ю. О. Скрипник. — К. : Либідь, 2005. — 448 с. Кучерук І. М. Загальний курс фізики : навч. посібник у 3-х т. Т. 2. Електрика і магнетизм / І. М. Кучерук, І. Т. Залевський, Б. М. Яворський. — К. : Техніка, 2006. — 452 с. Choi S. Physical modeling of time dependent dielectric breakdown (TDDB) of BEOL oxide using Monte Carlo particle simulation [Електронний ресурс] / S. Choi, C.-K. Baek // ResearchGate. — 2016. — Режим доступу: https://www.researchgate.net/publication/286660598_Physical_modeling_of_time_dependent_dielectric_breakdown_TD DB_of_BEOL_oxide_usin g_Monte_Carlo_particle_simulation. Поплавко Ю. М. Фізика діелектриків : підручник / Ю. М. Поплавко. — К. : НТУУ «КПІ», 2007. — 384 с. Choi S. Stochastic simulation of the NBTI and FN relaxation using the 3D Monte Carlo Method [Електронний ресурс] / S. Choi, C.-K. Baek // ResearchGate. — 2016. — Режим доступу: https://www.researchgate.net/publication/286660598_Physical_modeling_of_time_dependent_dielectric_breakdown_TD DB_of_BEOL_oxide_using_Monte_Carlo_particle_simulation.