Чисельне моделювання процесу термічної деградації діелектриків у сильних електричних полях методом Монте-Карло

Sarafinchan, S. S.; Martyniuk, V. V.

Чисельне моделювання процесу термічної деградації діелектриків у сильних електричних полях методом Монте-Карло

dc.contributor.author	Sarafinchan, S. S.	en
dc.contributor.author	Martyniuk, V. V.	en
dc.date.accessioned	2026-09-03T10:51:56Z
dc.date.available	2026-09-03T10:51:56Z
dc.date.issued	2026
dc.description.abstract	The kinetics of microscopic damage accumulation in solid dielectric layers under the influence of intense electric fields has been investigated. Based on statistical simulation using the Monte Carlo method, the dynamics of nucleation and growth of local defects leading to the formation of conductive channels (filaments) are reproduced. The dependence of the lifetime of microelectronic components on the applied field strength and temperature fluctuations has been determined.	en
dc.identifier.citation	Сарафінчан С. С., Мартинюк В. В. Чисельне моделювання процесу термічної деградації діелектриків у сильних електричних полях методом Монте-Карло // Матеріали Міжнародної науково-практичної інтернет-конференції «Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи (МН-2026)», м. Вінниця, 22-26 червня 2026 р. Електрон. текст. дані. 2026. URI: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/mn/mn2026/paper/view/29280.	uk
dc.identifier.udc	537.226.8
dc.identifier.uri	https://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/53768
dc.language.iso	uk_UA	uk_UA
dc.publisher	Вінницький національний технічний університет	uk
dc.relation.ispartof	Матеріали Міжнародної науково-практичної інтернет-конференції «Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи (МН-2026)», м. Вінниця, 22-26 червня 2026 р.	uk
dc.relation.references	5. Головко Д. Б. Основи фізики : навч. посібник / Д. Б. Головко, К. Г. Рего, Ю. О. Скрипник. — К. : Либідь, 2005. — 448 с. Кучерук І. М. Загальний курс фізики : навч. посібник у 3-х т. Т. 2. Електрика і магнетизм / І. М. Кучерук, І. Т. Залевський, Б. М. Яворський. — К. : Техніка, 2006. — 452 с. Choi S. Physical modeling of time dependent dielectric breakdown (TDDB) of BEOL oxide using Monte Carlo particle simulation [Електронний ресурс] / S. Choi, C.-K. Baek // ResearchGate. — 2016. — Режим доступу: https://www.researchgate.net/publication/286660598_Physical_modeling_of_time_dependent_dielectric_breakdown_TD DB_of_BEOL_oxide_usin g_Monte_Carlo_particle_simulation. Поплавко Ю. М. Фізика діелектриків : підручник / Ю. М. Поплавко. — К. : НТУУ «КПІ», 2007. — 384 с. Choi S. Stochastic simulation of the NBTI and FN relaxation using the 3D Monte Carlo Method [Електронний ресурс] / S. Choi, C.-K. Baek // ResearchGate. — 2016. — Режим доступу: https://www.researchgate.net/publication/286660598_Physical_modeling_of_time_dependent_dielectric_breakdown_TD DB_of_BEOL_oxide_using_Monte_Carlo_particle_simulation.	en
dc.relation.uri	https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/mn/mn2026/paper/view/29280
dc.subject	thermal degradation	en
dc.subject	solid dielectrics	en
dc.subject	Monte Carlo method electrical breakdown	en
dc.subject	computationalmodeling	en
dc.subject	conductive filaments	en
dc.title	Чисельне моделювання процесу термічної деградації діелектриків у сильних електричних полях методом Монте-Карло	uk
dc.type	Thesis

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1

Назва:: 29280.pdf
Розмір:: 1,21 MB
Формат:: Adobe Portable Document Format

Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1

Назва:: license.txt
Розмір:: 17 B
Формат:: Plain Text
Опис:

Завантажити

Зібрання

Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи (МН-2026)