<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Теоретичні основи деформаційного ефекту в МДН-транзисторних структурах

dc.contributor.authorОсадчук, О. В.uk
dc.contributor.authorОсадчук, Я. О.uk
dc.titleТеоретичні основи деформаційного ефекту в МДН-транзисторних структурахuk
dc.date.issued2013
dc.publisherКременчуцький університет економіки, інформаційних технологій і управлінняuk
dc.identifier.citationОсадчук О. В. Теоретичні основи деформаційного ефекту в МДН-транзисторних структурах [Текст] / О. В. Осадчук, Я. О.Осадчук // Науковий вісник КУЕІТУ "Нові технології". - 2013. - № 3-4. - С. 64-72.uk
dc.identifier.udc621.382
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/8403
dc.description.abstractThe paper presents a mathematical model of deformation effects in MOS transistor that is used as an element in tenzosensitive of pressure transducer with a frequency output . On the basis of a mathematical model designed dependence of the threshold voltage, saturation voltage, gate-source voltage of the pressure action. Most dependence of these parameters on the pressure observed at work MOS transistor in saturation at high pressures greater than 108 Pa.en
dc.subjectвід'ємний опірuk
dc.subjectтранзисторна структура з від'ємним опоромuk
dc.subjectтискuk
dc.subjectвагаuk
dc.subjectчастотний вимірювальний перетворювачuk
dc.subjectdeformation effecten
dc.subjectfrequency sensatoren
dc.subjecttensor sensible elementen
dc.typeArticle
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.date.accessioned2016-02-18T12:20:41Z
dc.date.available2016-02-18T12:20:41Z

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
NewTech_2013_3-4_12.pdf
Розмір:
136,89 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Стаття

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
2,14 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: