Порівняльна оцінка похибок перетворення однокристальних конверторів іммітансу
Вантажиться...
Файли
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
DOI
Анотація
The theory of estimation of transformation errors of one-chip immittance converters is developed. The comparative assessment of transformation errors of one-chip immittance converters is conducted on the base of unijunction, bipolar and field-effect transistors, suggestions for their reduction are given.
Опис
УДК
Тип документа
Мова
Є частиною
Бібліографічний опис
Ліщинська Л. Б. Порівняльна оцінка похибок перетворення однокристальних конверторів іммітансу [Текст] / Л. Б. Ліщинська, М. В. Барабан, М. А. Філинюк // Вісник Вінницького політехнічного інституту. - 2010. - № 6. - С. 87-92.