Метод вхідного контролю структурно-чутливих параметрів некристалічних напівпровідників
Вантажиться...
Дата
Науковий керівник
Редактор
Інші учасники
Відповідальний
ORCID
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
DOI
Альтернативна назва
Анотація
Розроблено метод вхідного контролю структурно-чутливих параметрів некристалічних напівпровідників на основі диференційно-термічного аналізу.
The method of input control of structure-sensitive parameters of amorphous semiconductors based on the differential thermal analysis was developed.
The method of input control of structure-sensitive parameters of amorphous semiconductors based on the differential thermal analysis was developed.
Опис
УДК
Тип документа
Мова
Є частиною
ISSN
Посилання на публікацію
Серія, номер
Технічні науки
ISBN
ББК
Інші ідентифікатори
Пов’язані матеріали
Спонсорська підтримка
Правовласник
Бібліографічний опис
Осадчук О. В. Метод вхідного контролю структурно-чутливих параметрів некристалічних напівпровідників [Текст] / О. В. Осадчук, C. В. Барабан, А. О. Семенов // Вісник Хмельницького національного університету. Серія "Технічні науки". - 2012. - № 3. - С. 90-93.