Метод вхідного контролю структурно-чутливих параметрів некристалічних напівпровідників

Author
Осадчук, О. В.
Барабан, С. В.
Семенов, А. О.
Date
2012
Metadata
Show full item record
Collections
Abstract
Розроблено метод вхідного контролю структурно-чутливих параметрів некристалічних напівпровідників на основі диференційно-термічного аналізу.
 
The method of input control of structure-sensitive parameters of amorphous semiconductors based on the differential thermal analysis was developed.
 
Please use this identifier to cite or link to this item:
http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/9201
View/Open