Показати скорочену інформацію

dc.contributor.authorОсадчук, Д. В.uk
dc.date.accessioned2017-07-13T22:51:04Z
dc.date.available2017-07-13T22:51:04Z
dc.date.issued2017
dc.identifier.citationОсадчук Д. В. Пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів [Електронний ресурс] / Д. В. Осадчук // Матеріали XLVI науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 22-24 березня 2017 р. - Електрон. текст. дані. - 2017. - Режим доступу : https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-frtzp/all-frtzp-2017/paper/view/3005.uk
dc.identifier.urihttps://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-frtzp/all-frtzp-2017/paper/view/3005
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/17557
dc.description.abstractВ даній статті розглянуто осболивості багатоемітерних інтегральних транзисторів. Розроблено пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів.uk
dc.description.abstractIn article features of integrated battleship transistors. Developed device for the study of integrated battleship transistors.en
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherВНТУuk
dc.relation.ispartofМатеріали XLVI науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 22-24 березня 2017 р.uk
dc.subjectнаукаuk
dc.subjectscienceen
dc.subjectточністьuk
dc.subjectшвидкодіяuk
dc.subjectнадійністьuk
dc.subjectprecisionen
dc.subjectperformanceen
dc.subjectreliabilityen
dc.titleПристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторівuk
dc.typeThesis
dc.identifier.udc621.38


Файли в цьому документі

Thumbnail

Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)

Показати скорочену інформацію