Approach tj the In-Circuit Testers Training for Electronic Devices Identification

Abstract

Algorithms of synthesis of test actions must provide given trustwortliiness and completeness of test relatively to considered class of unit under test (UUT) faults. Efficiency of such algorithms in the decisive degree is determined by the presence of adequate mathematical model of object. Basis for creating mathema¬tical model is, as a rule, UUT functional diagram. However, in case of technical documentation lack, information about demanded UUT characteristics we can receive only in the UUT identification mode by building mathematical model of UUT on the results of input and output signals measurements [1], The goal of the realization in-circuit identification mode is expending of in- circuit test systems (1CT) functional possibilities: • restoring UUT functional diagram in case of technical documentation lack or with existing changes of diagram which is not reflected in this documentation; • automated test program generation is realized in the ICT self learning mode (in this case studying UUT may be defective). Present paper is devoted to consideration of training system of electronic devices in-circuit test and identification.

Алгоритми синтезу тестових сигналів повинні забезпечувати задану достовірність і повноту тестування щодо розглянутого класу дефектів пристрою, що тестується. Ефективність таких алгоритмів у вирішальній мірі визначається наявністю адекватної математичної моделі об'єкта. Основою для створення математичної моделі є, як правило, електрична принципова схема пристрою. Але у разі відсутності комплекту технічної документації інформацію про необхідні характеристики пристрою можна отримати тільки у режимі його ідентифікації шляхом побудови математичної моделі пристрою за результатами вимірювань вхідних і вихідних сигналів [1], Метою реалізації режиму покомпонентної ідентифікації є використання функціональних можливостей інтегральних тестових систем (ІТC): • відновлення електричної принципової схеми пристрою в разі відсутності технічної документації або за наявності змін схеми, які не відображені в цій документації; • автоматична генерація тестової програми реалізується в режимі самонавчання ІТС. Ця стаття присвячена розгляду навчання системи внутрисхемного тестування та ідентифікації електронних пристроїв.

Алгоритмы синтеза тестовых воздействий должны обеспечивать заданную достоверность и полноту тестирования относительно рассматриваемого класса дефектов тестируемого устройства. Эффективность таких алгоритмов в решающей степени определяется наличием адекватной математической модели объекта. Основой для создания математической модели является, как правило, электрическая принципиальная схема устройства. Однако в случае отсутствия комплекта технической документации, информацию о требуемых характеристиках устройства можно получить только в режиме его идентификации путем построения математической модели устройства по результатам измерений входных и выходных сигналов [1], Целью реализации режима покомпонентной идентификации является использование функциональных возможностей интегральных тестовых систем (ИТC): • восстановление электрической принципиальной схемы устройства в случае отсутствия технической документации или при внесении изменений схемы, которые не отражены в этой документации; • автоматическая генерация тестовой программы реализуется в режиме самообучения ИТС. Настоящая статья посвящена рассмотрению обучения системы внутрисхемного тестирования и идентификации электронных устройств.